少子壽命測量儀BCT-400
BCT-400測量系統不需要做表面鈍化就能直接測量單晶和多晶硅（錠或塊）的少子壽命.
因為少子壽命作為衡量生長和缺陷含量的的較敏感的技術參數，這個工具直接獲得長硅的質量參數。
作為較易于使用的測量工具－－BLS，只需要有直徑150mm大小的平面。如果只是測量平面樣品的話，請選擇BCT-400。
產品簡述：
1.用途（高頻光電導）
用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊
體形無嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體
內重金屬雜質污染及缺陷存在的情況，是單晶質量的重要檢測項目。
2.設備組成
2.1光脈沖發生裝置
重復頻率＞25次/s 脈寬＞60μｓ 光脈沖關斷時間＜1μｓ
紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶） 脈沖電流：5A～20A
如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源
