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      LDLS高亮度寬帶光源

      LDLS高亮度寬帶光源

      產品介紹

      LDLSTM高亮度寬帶光源

       

      Energetiq光源是一款高亮度,高穩定、長壽命寬譜光源,采用革命性的光源技術——LDLS?激光驅動光源技術,使用連續激光直接加熱氙離子至需要的溫度,以產生高效的寬頻譜光。具有高可靠性,高性能,高亮度,長壽命等特點。譜線覆蓋從深紫外(DUV)、可見光和近紅外光區(NIR),波長范圍從 170nm到2100nm 以上,壽命長達10,000小時以上。無電極的 LDLS 技術可以產生少量,高亮度的等離子體,以獲取高效的光源,并且延長了燈的使用壽命。


      技術原理:

      特點&優勢:

      ?  高光譜寬度:170-2100 nm全波段覆蓋

      ?  高亮度:>10mW/mm2/nm/Sr,30W氘燈的100倍以上

      ?  極小發光點:約100μm

      ?  極好的功率和空間穩定性

      ?  長壽命:> 9000 hrs(10%衰減)

       

      典型應用:

      ?  替代氙燈、氘燈和鹵鎢燈等

      ?  UV-Vis-NIR光譜

      ?  單色光源

      ?  膜厚、形貌測量

      ?  光纖/光學材料和器件測試

      ?  環境、化學、材料分析

      ?  缺陷檢測

      ?  高級顯微成像/照明


      1、基礎系列

       產品型號

      EQ-99X

      EQ-99XFC

       

      EQ-1500

       

      主要特征

      光譜范圍170nm-2100nm(光纖190-2100nm),連續輸出,高功率穩定性<0.1%,燈泡壽命長達9000hrs以上

      輸出功率

      0.5W

      ~80mW(from 230μmfiber,0.22NA)

      1.5W

      亮度

      ~10mW/mm2/nm/Sr

      ~60 μW/mm2/nm/Sr(230μm   fiber,0.22NA)

      ~30 mW/mm2/nm/Sr

      光學接口

      0.47 NA

      0.22 NA,FC/SMA接頭

      0.50 NA

      冷卻系統

      空冷

      空冷

      水冷

      應用

      UV-Vis-IR光譜

      光學測量

      材料、器件測量和表征

      單色光源

      分析儀器

      高級系統照明

      UV-Vis-IR光譜

      光纖光學

      材料、器件測量和表征

      單色光源

      薄膜測量

      單色光源

      PEEM/LEEM

      UV-VIS-IR光譜分析

      材料、器件測試和表征


      2、OEM系列

      OEM系列光源是Energetiq在原有的LDLS?技術基礎上進行了改進,將驅動激光器和發光點集成到同一個燈室里,使得光源更加緊湊,更加穩定。同時,OEM系列光源具有雙向輸出窗口設計,用戶可以根據需要選擇單向輸出和雙向輸出。

      產品型號

      EQ-9

       

      EQ-77

       

      EQ-400

       

      主要特征

      光譜范圍170nm-2100nm,連續輸出,燈泡壽命長達9000hrs以上,高功率穩定性<0.1%,單/雙光學出口

      輸出功率

      0.5 W

      2.2 W

      15 W

      亮度

      ~10mW/mm2/nm/Sr

      >50mW/mm2.sr.nm

      >100mW/mm2.sr.nm

      光學接口

      0.47 NA

      0.5   NA

      0.50 NA

      冷卻系統

      空冷

      水冷

      水冷

      應用

      UV-Vis-IR光譜

      光學測量

      材料、器件測量和表征

      單色光源

      分析儀器

      高級系統照明

      UV-Vis-IR光譜

      PEEM/LEEM

      材料、器件測量和表征

      單色光源

      薄膜測量

      半導體檢測

      缺陷檢測

      材料、器件測試和表征

      高級光學照明

      薄膜測量


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