法國PHASICS公司自主研發的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術。SID4系列波前分析儀相較傳統的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態檢測范圍、操作簡便等獨特的優勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案！
PHASICS波前探測器配套的軟件界面友好，可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強度分布圖。
◆高分辨率（高達300 x400個采樣點) ◆消色差 ◆高動態范圍 ◆高靈敏度 ◆操作簡便 ◆設計簡潔緊湊
◆高分辨率的相位圖能夠提供高分辨率的相位圖。標準分辨率為160ｘ120個采樣點，最高分辨率可達400ｘ300。高分辨率的探測器能精確測量鏡片像差，并能做到較高的測量重復性。
◆具有直接測量高發散光束的能力我們的波前探測技術具有直接測量光路系統相差的能力，并且無需額外的過渡鏡。
◆消色差SID4探測器能夠匹配CCD整個探測范圍，用于不同波長光而無需額外校準，也能用于多色光源。
◆對準方便SID4探測器無需精確的，很繁冗的校準步驟，分析算法為校準波前探測器提供便利。
◆符合人體工程學原理設計緊湊的SID4探測器配置了電腦和專用KALEO軟件，其友好的人機界面使光學測量過程更符合人體工程學原理。
◆光學測量專用的KALEO軟件SID4探測器為光學測量配置了專用的Kaleo軟件。該軟件允許在一次測量中提供完整的測量項目的光學量值特征：相差，PSF，MTF，有效焦距等。定制的特征報告也可編輯。
| 型號 | SID4 UV-HR | SID4 | SID4 HR | SID4 NIR | SID4 SWIR | SID4 IR-MCT | SID4 DWIR | SID4 LWIR |
| 波長 | 190 – 400 nm | 400 – 1100 nm | 400 – 1100 nm | 1,5 – 1,6 μm | 0,4 – 1,7 μm | 1,2 – 5,5 μm | 3 – 5 μm and 8 – 14 μm | 8 – 14 μm |
| 孔徑 | 8.0 × 8.0 mm2 | 3.6 × 4.8 mm2 | 8.9 × 11.8 mm2 | 3.6 × 4.8 mm2 | 9.6 × 7.68 mm2 | 9.60 x 7.68 mm2 | 10.08 ×8.16mm2 | 16 x 12 mm2 |
| 空間分辨率 | 32 μm | 29,6 μm | 29,6 μm | 29,6 μm | 60 μm | 60 μm | 68 μm | 100 μm |
| 采樣點 | 250 x 250 | 160 x 120 | 300 x 400 | 160 x 120 | 160 x 128 | 160 x 128 | 160 x 120 | 160 x 120 |
| 精度 (絕對精度) | 10 nm RMS | 10 nm RMS | 15 nm RMS | 15 nm RMS | 15 nm RMS | 75 nm RMS | 75 nm RMS | 75 nm RMS |
| 分辨率（靈敏度） | 0,5nm RMS | < 2 nm RMS | < 2 nm RMS | <11nm MS | <2 nm RMS | < 3 nm RMS | 25 nm RMS | 25 nm RMS |
| 動態范圍 | > 200 μm | > 100 μm | > 500 μm | > 100 μm | > 100 μm | 300 μm | > 100 μm | > 100 μm |
| 采樣頻率 | 30 fps | > 100 fps | > 30 fps | 60 fps | 120 fps | 140 fps | > 50 fps | 40 fps |
◆激光束質量分析
◆自適應光學
◆光學元件表面測量
◆生物成像
◆熱成像，等離子體表面物理
